GB-T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

ICS 31. 080. 01 L 40 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 4589.1-2006/IEC 60747-10:1991 QC700000 代替GB/T4589.1-1989 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 Semiconductor devices--Part 10 :Generic specification for discrete devices and integrated circuits (IEC60747-10:1991,IDT) 2007-02-01实施 2006-10-10发布中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会 GB/T4589.12006/IEC60747-10:1991 目次前言 1范围 2 总则 2.1 优先顺序 2.2 有关文件 2.3 单位、符号和术语 2. 4 电压、电流和温度的优先值· 2.5 标志… 2.6 质量评定类别 2. 7 筛选 2.8 注意事项质量评定程序 3. 1 鉴定批准的资格 3.2 商业保密信息 3.3 检验批的构成 3. 4 结构相似器件 3. 5 鉴定批准的授予 3.6 质量一致性检验 3.7 统计抽样程序 3.8 规定LTPD时的耐久性试验 3.9 规定失效率时的耐久性试验 3.10 加速试验程序 3.11 能力批准 10 4 试验和测试程序… 16 4.1 电测试和光测试的标准大气条件· 16 4.2 破坏性试验定义 16 4. 3 物理检查 16 4.4电测试和光测试· 17 4.5环境试验 17 附录A（规范性附录）批允许不合格品率(LTPD)抽样方案 18 附录B（规范性附录）需检查的尺寸。 23 附录C（规范性附录）机械试验加力的方向.. 25 附录D（资料性附录）按ppm（百万分之一）评价质量水平， 27 附录NA（资料性附录）本标准对IEC60747-10:1991所做的编辑性修改和原因 30

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