说明:收录25万 73个行业的国家标准 支持批量下载
UDC 621.382 L 55 中华人民共和国国家标准 GB/T 14032---92 半导体集成电路数字锁相环 测试方法的基本原理 General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits 1992-12-18发布 1993-08-01实施 国家技术监督局发布 中华人民共和国国家标准 半导体集成电路数字锁相环 GB/T 14032-92 测试方法的基本原理 General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits 本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原 理。 数字锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理》。 1总要求 1.1若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。 1.2测试期间,施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。 1.3测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响,测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的 规定。 1.4被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件。 1.5若有要求时,应按器件详细规范规定的顺序接通电源。 1.6'测试期间,被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络, 1.7若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时,这些测试的时间间隔应尽可能短。 1.8测试期间应避免因静电感应而引起器件失效。 2参数测试 2.1动态功耗Pa。 2.1.1目的 测试器件动态工作时的功率。 2.1.2测试原理图 Pa测试原理图见图1。 国家技术监督局1992-12-18批准 1993-08-01实施 1 GB/T 14032--92 电源 直 流 信 被测器件 号 源 频 定频网络 计 器 图 1 2.1.3测试条件 测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 a. 环境温度; b. 压控振荡器输入电压; c. 定频网络的电阻和电容; d. 压控振荡器输出频率。 2.1.4测试程序 2.1.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.1.4.2接通电源。 2.1.4.3 调节直流信号源的输出电压,使压控振荡器输入电压Vi为电源电压V+的 2.1.4.4 调节定额网络中的电容,使压控振荡器输出频率为规范值。 2.1.4.5 在电源端读取电流I+的平均值。 2.1.4.6按式(1)计算Pa: Pa I+: V- (1) 2.2压控振荡器最高工作频率fmax 2.2.1月的 测试压控振荡器输入电压为最大值时的输出频率。 2.2.2测试原理图 fmax测试原理图见图2。 GB/T 14032—92 电源 流 信 被测器件 号 源 定频网络 图 2 2.2.3测试条件 测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 环境温度; b. 电源电压; c. 压控振荡器输入电压; d. 定频网络的电阻和电容; e. 压控振荡器输出端电平和波形。 2. 2. 4 测试程序 2.2.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.2.4.2接通电源。 2.2.4.3调节直流信号源的输出电压使压控输入电压V为电源电压V+。 2.2.4.4读取压控振荡器输出端频率即为压控振荡器最高工作频率fmax。 2.3压控振荡器输出频率温度系数αf。 2.3.1目的 在规定的温度范围内测试单位温度变化所引起的压控振荡器输出频率的相对变化。 2.3.2·测试原理图 αt.测试原理图见图3。 3 GB/T 14032--92 电源 恒温箱 直 流 信 被测器件 台 源 率 波 定频网络 计 器 图 3 2.3.3测试条件 测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 a. 环境温度; b. 电源电压; c. 压控振荡器输入电压; d. 定频网络的电阻和电容。 2.3.4测试温度 2.3.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.3.4.2接通电源。 2.3.4.3调节压控振荡器的直流输入电压Vi为V+的 2.3.4.4将器件置于规定的环境温度T1下,读取压控振荡器的输出频率f1。 2.3.4.5将器件置于规定的环境温度T2下,读取压控振荡器的输出频率f2。 2.3.4.6按式(2)计算α: fz-fi .(2) 2.4压控振荡器线性误差EL 2.4.1目的 测试压控振荡器传输特性曲线对于其最佳拟合直线的最大偏差。 2.4.2测试原理图 EL测试原理图见图4。 GB/T 14032—92 电源 直 流 信 被测器件 源 频 波 定频网络 计 器 图 4 2.4.3测试条件 测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 a. 环境温度; b. 电源电压; c. 定频网络的电阻和电容; 压控振荡器输入电压范围。 2.4.4测试程序 2.4.4.1将被测器件接人测试系统中。 2.4.4.2接通电源。 2.4.4.3调节直流信号源的输出电压,在规定的压控输入电压范围内分别测试压控振荡器输入电压 V.和输出频率f。。 2.4.4.4根据各测试点的测试结果,确定最佳拟合直线。 2.4.4.5计算所测数据中各点压控输出频率与最佳拟合直线之间的偏差,找出其中绝对值最大者 [△f。Imax,用式(3)计算EL: i△f。|ma EL × 100(%FSR) .....(3) f.(FSR) 式中:f。FSR)满量程输出频率。 2.5解调输出端失调电压Voo 2.5.1目的 测试解调输出电压与压控输入电压的偏差。 2.5.2测试原理图 Voo测试原理图见图5。 5 GB/T 14032--92 电源 直 流 信 被测器件 号 源 图5 2.5.3测试条件 测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 a. 环境温度; b. 电源电压; c. 压控振荡器输入电压; d. 解调输出负载电阻RL。 2.5.4测试程序 2.5.4.1) 将被测器件接入测试系统中。 2.5.4.2 接通电源。 2.5.4.3 调节直流信号源输出电压使压控输入电压V.为规定值。 2.5.4.4 读取解调输出端电压V。D。 2.5.4.5 按式(4)计算Vo0。 Voo - V, -- VoD (4) 2.6相位比较器交流输入跟踪电压VTRA 2.6.1目的 测试在规定的中心频率和频偏下能锁定的最小交流输入电压。 2.6.2测试原理图 VTRA测试原理图见图6。

.pdf文档 GB-T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

文档预览
中文文档 9 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 309 收藏 3.0分
温馨提示:本文档共9页,可预览 3 页,如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
GB-T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 第 1 页 GB-T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 第 2 页 GB-T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 第 3 页
下载文档到电脑,方便使用
本文档由 人生无常 于 2025-07-12 17:30:06上传分享
友情链接
站内资源均来自网友分享或网络收集整理,若无意中侵犯到您的权利,敬请联系我们微信(点击查看客服),我们将及时删除相关资源。