ICS17.040.30 J42 中华人民共和国国家标准 GB/T26097—2010 数 显电感测微仪 Inductivelengthmeasuringinstrumentwithdigitaldisplay 2011-01-10发布 2011-10-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布前 言 本标准的附录A为资料性附录。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132)归口。 本标准负责起草单位:中原量仪股份有限公司。 本标准参加起草单位:中国计量学院、江苏麦克龙测量技术有限公司、广西壮族自治区计量检测研 究院、河南省计量科学研究院。 本标准主要起草人:金国顺、赵军、黄晓宾、刘俏君、黄玉珠、贾晓杰。 ⅠGB/T26097—2010 数显电感测微仪 1 范围 本标准规定了数显电感测微仪的术语和定义、型式和基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与 包装等。 本标准适用于分辨力为0.01μm、0.1μm、1μm,量程不大于2mm的数显电感测微仪(以下简称 “测微仪”)。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB/T191—2008 包装储运图示标志(ISO780:1997,MOD) GB4208—2008 外壳防护等级(IP代码)(IEC60529:2001,IDT) GB/T4879—1999 防锈包装 GB/T5048—1999 防潮包装 GB/T6388—1986 运输包装收发货标志 GB/T9969—2008 工业产品使用说明书 总则 GB/T14436—1993 工业产品保证文件 总则 GB/T17163—2008 几何量测量器具术语 基本术语 GB/T17164—2008 几何量测量器具术语 产品术语 GB/T17626.2—2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验(IEC61000-4-2:2001, IDT) GB/T17626.3—2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC61000-4- 3:2002,IDT) 3 术语和定义 GB/T17163—2008、GB/T17164—2008中确立的术语和定义适用于本标准。 4 型式和基本参数 4.1 型式 测微仪由数字显示器和传感器组成,其型式及装夹尺寸见图1~图4所示。图示仅供图解说明,不 表示详细结构。 1GB/T26097—2010 图1 数显电感测微仪的型式示意图 图2 带模拟表显示的数显电感测微仪的型式示意图 图3 带模拟柱显示的数显电感测微仪的型式示意图 2GB/T26097—2010 a)旁向式传感器 b)轴向式传感器 图4 传感器的型式示意图 4.2 基本参数 4.2.1 旁向式传感器装夹部位的型式和尺寸见图5的规定。 单位为毫米 a)耳夹式 b)支持杆式 图5 旁向式传感器装夹部位的型式示意图 4.2.2 轴向式传感器的装夹尺寸及轴向式传感器测头的连接尺寸见表1、图6的规定。 表1 单位为毫米 D L(参考尺寸) ϕ28f7 ≥40 ϕ16f7 ≥20 ϕ8f7 ≥12 尺寸单位为毫米 表面粗糙度单位为微米 图6 轴向式传感器测头的连接尺寸示意图 3GB/T26097—2010 5 要求 5.1 外观 测微仪表面不应有锈蚀、碰伤和镀层脱落等缺陷,各种标志、数字、刻线应正确清晰。 5.2 相互作用 测微仪各紧固部分牢固可靠,各转动部分应灵活,不应有卡滞和松动现象。 5.3 硬度和表面粗糙度 传感器测头应选用具有良好耐磨性的材料,其测量面的表面硬度不应低于766HV,表面粗糙度Ra 不应大于0.1μm。 5.4 响应时间 测微仪响应时间应小于1s。 5.5 调零范围 测微仪调零范围应大于20μm。 5.6 误差 测微仪的重复性、方向误差、回程误差和最大允许误差见表2的规定。 表2 单位为微米 分辨力重复性 轴向式传感器 旁向式传感器方向误差 回程误差 最大允许误差a 0.01b0.05 0.08 0.08 0.1 ±(0.07+0.4×L) 0.1 0.1 0.1 0.1 0.2 ±(0.2+3×L3) 1 1 1 1 1 ±(0.2+3×L3) a最大允许误差的计算公式中L为校准零位至检测点的距离,单位为mm。 b对于分辨力为0.01μm、量程大于40μm的测微仪参见附录A。 5.7 稳定性 在规定时间内,测微仪示值随时间变化的稳定性不应大于表3的规定。 表3 分辨力/μm 规定时间/h 稳定性/μm 0.01 0.5 0.2 0.1 0.5 0.2 1 4 1 5.8 测量力 5.8.1 传感器的测量力不应大于表4的规定。 表4 传感器型式 测量力/N 轴向式传感器 夹持部位直径/mmϕ8f7 0.75 ϕ16f7 1.5 ϕ28f7 2.5 旁向式传感器 0.25 5.8.2 传感器测量力的变化应在75%~125%范围内。 4GB/T26097—2010 5.9 防护等级(IP) 测微仪应具有防尘、防水能力,其防护等级不得低于IP40(见GB4208—2008)。 5.10 抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力 测微仪的抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力均不应低于1级(见GB/T17626.2—2006、 GB/T17626.3—2006)。 5.11 工作环境 测微仪应能在环境温度0℃~40℃、相对湿度不大于80%的条件下进行正常工作。 6 检验方法 6.1 检验条件 测微仪的检验应在温度为20℃±1℃,温度变化不应大于0.5℃/h的检验室内进行。受检前,测 微仪和检验器具应在检验室内等温4h以上。测微仪通电后应预热30min,正式检验在放大倍数调好 后进行。 6.2 检验项目、方法和检验器具 测微仪的检验项目、检验方法和检验器具见表5。 表5 序号 检验项目 检验方法 检验器具 1 响应时间 在最小分辨力档位上,使测头与测量台架工作台上的量块相接 触,然后迅速使测头移动,测出从给测头等于1/2示值范围的迅速 变位起,到指针指示在一个最小分度值之内为止的所需时间 测量台架、 量块、秒表 2 调零范围 在最小分辨力档位上,将零位调整旋钮从一端旋到另一端时,读 出指针移动的范围 测量台架、 量块 3 零位平衡 在最小分辨力档位上,使指针对准零位刻度线,依次向各档转动 量程转换开关,观察各档指针对零位的偏移量 测量台架、 量块 4 重复性 使测头与测量台架工作台上的量块相接触,将测微仪的指针对准 任意一条刻度线,用提升机构把测头提起,再使其自由落下,其提升 量应稍大于该档的示值范围,且每次提升量基本一致,重复10次取 其各次示值中最大值与最小值的差值(见图7) 测量台架、 量块、提升 机构 5 方向误差 使测头的运动方向垂直于测量台架工作台台面,并与测量台架工 作台台面上的半圆柱侧块圆柱面顶部相接触(见图8),调整测微仪 的指针对准任意一个刻度线,以前、后、左、右四个方向推动半圆柱 侧块,记下每次半圆柱侧块圆柱面顶部与测头接触时的读数值(示 值拐点),计算指示表最大示值与最小示值之差,即为方向误差 测量台架、 半圆柱侧块 6 回程误差 使测头与测量台架工作台上的量块相接触,给传感器以正向位 移,使指针对准指示表左侧任意一条刻度线后,用提升机构把测头 提起,其提升量应稍大于该档的示值范围,再放下,求出提升前后指 针指示的差值,重复3次,取最大值(见图7),用同样方法对准指示 表右侧任意一条刻度线,再检定一次 测量台架、 量块、提升 机构 7 示值误差 使测头与测量台架工作台上的量块相接触,将测微仪的指针对准 零刻度线,然后根据示值范围的四等分(或六等分)置换相对应的量 块,依次检定出这些受检位置的示值误差,取其最大值(见图7) 测量台架、 量块a 5GB/T26097—2010 表5(续) 序号 检验项目 检验方法 检验器具 8 稳定性 在最小分辨力档位上,使测头与测量台架工作面相接触,并使指 针与满刻度线相邻的刻度线重合,经一定的准备时间后在规定的时 间内读出示值的最大变化量(见图7) 测量台架、 量块、时钟 9 测量力 使装在测量台架上的传感器的测头处于自由悬垂状态,然后用测 力计沿测头运动方向对测头向上加力,读出指针通过零位时的测力 计读数,然后使测头向下移动,当指针通过零位时再次在测力计上 读数,取两次读数的平均值,作为测量力(见图9) 测量台架、 测力计 a检验示值误差用的量块规定如下: 测微仪分度值为0.01μm的选用二等量块,用配对法检验; 测微仪分度值为0.1μm的选用二等量块; 测微仪分度值为1μm的选用三等量块。 图7 检验重复性、回程误差和示值误差的示意图 图8 检验方向误差的示意图 图9 检验测量力的示意图 6GB/T26097—2010